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IC电磁发射测试系统

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产品名称: IC电磁发射测试系统
产品型号: TEM小室法
产品展商: Langer
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简单介绍
依据IEC 61967-2的IC电磁发射测试系统-TEM小室法其实就是一个变型的同轴线,由一块扁平的芯板作为内导体,外导体为方形,两端呈锥形向通用的同轴器件过渡,一头连接同轴线到测试接收机,另一头连接匹配负载。IC电磁发射测试系统中的小室的外导体顶端有一个方形开口用于安装测试电路板。

IC电磁发射测试系统

的详细介绍


IEC61967-2 规定的TEM小室IC电磁发射测试系统,其实就是一个变型的同轴线:

在此同轴线中部,由一块扁平的芯板作为内导体,外导体为方形,两端呈锥形向通用的同轴器件过渡,一头连接同轴线到测试接收机,另一头连接匹配负载,如下图所示。小室的外导体顶端有一个方形开口用于安装测试电路板。其中,集成电路的一侧安装在小室内侧,互连线和外围电路的一侧向外。这样做使测到的辐射发射主要来源于被测的IC芯片。受测芯片产生的高频电流在互连导线上流动,那些焊接引脚、封装连线就充当了辐射发射天线。当测试频率低于TEM小室的一阶高次模频率时,只有主模TEM模传输,此时TEM小室端口的测试电压与骚扰源的发射大小有较好的定量关系,因此,可用此电压值来评定集成电路芯片的辐射发射大小。

TEM小室法辐射发射测试示意图

全套测试系统,由以下几个部分组成:
1.EMI测试接收机,可选ESL3或者ESL6
标准对频谱仪或接收机的要求:
·频率范围覆盖150kHz-1GHz
·峰值检波、带Max值保持功能
·分辨率带宽的设置如下表:

测量仪器
频段
150kHz30MHz
30MHz1GHz
频谱分析仪(3dB
10kHz
100kHz
接收机(6dB
9kHz
120kHz

R&S® ESL EMI测试接收机,是一台能依据*新标准进行电磁干扰测试的EMI接收机,同时也是一台全功能的频谱分析仪。
ESL3 EMI测试接收机,完全符合IEC 61967标准要求,同时还能对设备级产品进行电磁兼容预测试。

2.测试电路板
对集成电路的EMC测试,被测IC需要安装在一块印制电路板上,为提高测试的方便性与重复性,标准规定了电路板的规格,标准电路板的大小与TEM小室顶端的开口大小匹配。
IC测试电路板,完全依据集成电路电磁兼容测试要求设计,由下列部件构成:
· 测试板
·GND平面GND22-04
·连接板CB 0706
·IC适配器
·控制单元

3.TEM小室
主要技术参数:
·频率范围:DC-2GHz
·Max驻波比:1.2:1
·RF连接器:N型
·Max输入功率:500瓦
·10V/m电场场强所需功率:<3.7mW
·1000V/m电场场强所需功率:<37瓦
· Max EUT尺寸(cm):6x6x1

·外形尺寸(cm):15.2 x 9.9 x 33.8

 


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