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IC电磁发射测试系统

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产品名称: IC电磁发射测试系统
产品型号: 1Ω/150Ω直接耦合法
产品展商: Langer
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简单介绍
依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法是根据集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。

IC电磁发射测试系统

的详细介绍


集成电路EMC测试系统

依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统
传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法

集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
IEC61967-4规定了两种测试方法:1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流,150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。

全套测试系统,由以下几个部分组成:
1.EMI测试接收机,可选ESL3
标准对频谱仪或接收机的要求:
? 频率范围覆盖150kHz-1GHz
? 峰值检波、带Max值保持功能
? 分辨率带宽的设置如下表:

测量仪器
频段
150kHz30MHz
30MHz1GHz
频谱分析仪(3dB
10kHz
100kHz
接收机(6dB
9kHz
120kHz

 

2.测试电路板
对集成电路的EMC测试,被测IC需要安装在一块印制电路板上,为提高测试的方便性与重复性,标准规定了电路板的规格,标准电路板的大小与TEM小室顶端的开口大小匹配。
GND22-04测试电路板,完全依据集成电路电磁兼容测试要求设计,由下列部件构成:
? 测试板
? GND平面GND22-04
? 连接板CB 0706
? IC适配器
? 控制单元


3.Probe 603电流探头以及Probe 750电压探头
Probe 750:依据IEC 61967-4的电压探头
应用:测量IC引脚的电压,依据IEC 61967-4的150Ω法
主要技术参数:
? 输入阻抗:150 ?
? 频率范围:可达3GHz
? RF输出:50 ?
? 50Ω频率响应

Probe 603: 依据IEC 61967-4的电流探头
应用:测量IC引脚的电流,依据IEC 61967-4的1Ω法
主要技术参数:
? 分流电阻:
Probe 602:0.1欧姆
Probe 603:1欧姆
? 耦合电容:85 μF
? 分流电阻*大功耗:2.5瓦
? RF输入:1nH
? RF输出:50 ?
?不带前置放大器:-6dB
? 频率范围:200Hz-3GHz


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